林蔚文
美商吉時利儀器公司 (Keithley Instruments) 針對 Model 4200-SCS 半導體特性分析系統推出 7.1 版 Keithley Test Environment Interactive (KTEI) 。這款升級軟體能檢測更高功率的半導體元件；也能支援小訊號元件的特性分析。 Model 4200-SCS 是市面上最完整的半導體特性分析儀，不僅讓嚴苛的量測作業變得容易，更能夠保護資本設備的投資、進而降低測試成本。
KTEI V7.1 結合一系列創新的特色與功能，擴展 Model 4200-CVU(電容-電壓單元) 的性能：包括軟體支援方案，能針對功率最高達 200V DC 、 300mA 的半導體元件進行特性分析 (或 400V 差動偏壓) 。這項功能對工程師來說非常實用，不僅限於 LDMOS 的單一領域，還包括其他高功率半導體元件的應用領域─例如汽車、電子液晶顯示器、微機電等。
此外，KTEI V7.1 亦擴增對其他新功能的軟體支援：
- 差動式直流偏壓 (Differential DC bias)
- 準靜態 C-V 測試 (Quasistatic C-V testing)
- 擴增的元件測試資料庫
- 各種軟體強化功能，協助加快與簡化測試程序
本文目錄
支援高功率元件的測試功能
新款 Model 4200-CVU-PWR C-V Power Package 硬體選購配備，能搭配 KTEI V7.1 的 C-V 軟體工具，檢測高功率元件的電流與電壓，最高達 200VDC (或 400V 差動偏壓) 以及 300mA 的電流。這種電流-電壓測試功能，可用來設計、測試、以及建構汽車電子元件模型、 MEMS 微機電系統、 LDMOS 、液晶顯示器、以及其他更高功率的元件。
在加入 Keithley 的 Model 4200-CVU-PWR CV Power Package 後，Model 4200-SCS 現在支援更高功率的 C-V 、脈衝 I-V (電流-電壓) 、以及直流 I-V 應用，並將所有功能整合至同一機殼內。
升級方案的另一項重要功能，是對差動直流偏壓 (differential DC biases) 的運用。 Model 4200-CVU 結合 C-V 儀器的對稱式線路，和快閃記憶體的升級，能在 C-V HI 與 C-V LO 終端運用高達 60 伏特的差動 DC 偏壓。 Keithley 是第一家推出這項獨特功能的參數分析儀廠商，在受測元件的電場控制 (electric fields) 方面獲得更高的彈性；對於建構像奈米元件等獨特元件的模型，這項功能也特別有用。 KTEI V7.1 已加入 4200-CVU 韌體升級功能，因此省去把設備送回原廠重新設定的麻煩。
軟體升級方案支援創新的準靜態電流-電壓量測技術，斜率法 (Ramp Rate Method) 能運用 Model 4200-SCS 現有的 SMU 以及前置放大器。準靜態 C-V 技術適合針對低功耗 CMOS 、高介電材料、顯示元件、以及其他低漏電元件進行特性分析。
繼續的系統增強功能確保持續性的生產力
Keithley 的 Model 4200-SCS 取代各種電子測試工具，提供緊密整合的單一特性分析解決方案，適合各種應用─包括可靠性實驗室、材料與元件研究實驗室、產業聯盟等組織、以及任何桌上型 DC 或 pulse 儀器的實驗室，進行半導體技術開發、製程開發、以及材料研究。 Keithley 持續提升軟硬體的性能表現並改良系統，確保一條具成本效益的升級管道，讓使用者不必淘汰舊的參數分析儀。系統可以高成本效益的方式進行升級，配合產業持續演進的測試需求，因此，將關鍵的投資放在 Model 4200-SCS 所獲的的效益，將遠超過其他廠商的測試解決方案。
價格與供貨時程
KTEI 7.1 版已針對現有的 Model 4200-SCS 系列提供免費升級方案，亦可透過 Keithley 業務人員訂購；另外也可選購配件 Model 4200-CVU-PWR CV Power Package 。