林蔚文
Spansion 今天宣佈，開始向其策略型 OEM 客戶提供針對手機設計的 65nm MirrorBit Eclipse 快閃記憶體解決方案樣片。透過將標準 NOR 快閃記憶體所具有的出色隨機存取性能與 MirrorBit Eclipse 架構所擁有的業界領先的編程能力相結合，Spansion 以 MirrorBit Eclipse 架構為基礎的 MCP 產品將為使用中高階手機平台的用戶帶來不同凡響的使用體驗。公司計畫於 2008 年下半年在其位於日本的全新旗艦級 300mm SP1 晶圓廠量產該產品。
隨著手機和多媒體可攜式設備中數位內容（如圖片、音樂和視訊）的日益增多，以 MirrorBit Eclipse 架構為基礎的快閃記憶體解決方案能夠提升用戶體驗，例如加快應用程式載入速度、縮短啟動時間以及提升圖像儲存和讀取速度等。以每單元 2 位元 MirrorBit 技術為基礎的這些解決方案，能夠以傳統 NOR 所具有的極高速度執行代碼，並具備極快的多媒體數據傳輸速率。
此外，透過採用就地執行（XIP，eXecute-In-Place) 界面，不但可以直接讀取非揮發性記憶體中的代碼和數據，還可減少用於代碼射映（code-shadowing）的系統 DRAM 面積，進而能幫助手機 OEM 廠商節省 20% 甚至更多的儲存子系統物料成本，同時在設計中獲得更大的靈活性。
Spansion 無線解決方案事業部執行副總裁 Ahmed Nawaz 表示，65nm MirrorBit Eclipse 系列產品，是公司位於日本的 SP1 旗艦級 300mm 晶圓廠生產的首批產品之一。透過在同一個單裸片上進行代碼執行和數據儲存，使手機 OEM 廠商在大幅降低成本的同時，又能顯著提升性能，包括高速編程、低功率、高容量和快速的應用程式切換等功能。
另外，MirrorBit Eclipse 解決方案還整合了一個可編程微控制單元，取代了以往用於快閃記憶體的傳統狀態機（state machine），並且支援內建自測 (BIST，built-in seft test) 。意在減少測試相關成本，而設計的內置自測可以縮短產品的測試週期並降低測試設置的複雜程度，進而直接減少對自動測試設備（ATE，automated test equipment）的需求。